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Verfasst von: | Titze, Benjamin ![]() |
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Titel: | Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging |
Verf.angabe: | put forward by Bnjamin Titze |
Jahr: | 2013 |
Umfang: | 112 S. |
Illustrationen: | Ill., graph. Darst. |
Fussnoten: | Zsfassung in dt. Sprache |
Hochschulschrift: | Heidelberg, Univ., Diss., 2013 |
URL: | Inhaltsverzeichnis: http://d-nb.info/1041654715/04 |
Schlagwörter: | (s)Rasterelektronenmikroskopie ![]() ![]() ![]() |
Dokumenttyp: | Hochschulschrift |
Sprache: | eng |
Bibliogr. Hinweis: | Erscheint auch als : Online-Ausgabe: Titze, Benjamin: Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging. - 2013. - Online-Ressource |
K10plus-PPN: | 1464473404 |
Signatur | QR | Standort | Status | |
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2013 U 963 | ![]() | Hauptbibliothek Altstadt / Ausweichmagazin | bestellbar | |
Mediennummer: 10420596 |