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| Verfasst von: | Titze, Benjamin  |
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| Titel: | Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging |
| Verf.angabe: | put forward by Bnjamin Titze |
| Jahr: | 2013 |
| Umfang: | 112 S. |
| Illustrationen: | Ill., graph. Darst. |
| Fussnoten: | Zsfassung in dt. Sprache |
| Hochschulschrift: | Heidelberg, Univ., Diss., 2013 |
| URL: | Inhaltsverzeichnis: http://d-nb.info/1041654715/04 |
| Schlagwörter: | (s)Rasterelektronenmikroskopie / (s)Oberflächenladung / (s)Strahlenschaden |
| Dokumenttyp: | Hochschulschrift |
| Sprache: | eng |
| Bibliogr. Hinweis: | Erscheint auch als : Online-Ausgabe: Titze, Benjamin: Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging. - 2013. - Online-Ressource |
| K10plus-PPN: | 1464473404 |
| Signatur | QR | Standort | Status | |
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| 2013 U 963 |  | Hauptbibliothek Altstadt / Ausweichmagazin | bestellbar | |
| Mediennummer: 10420596 | ||||
