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 Online-Ressource
Verfasst von:Soldat, Jan [VerfasserIn]   i
Titel:Characterization, operation and wafer-level testing of an ultra-fast 4k pixel readout ASIC for the DSSC x-ray detector at the European XFEL
Mitwirkende:Fischer, Peter [AkademischeR BetreuerIn]   i
Verf.angabe:put forward by Dipl.-Phys. Jan Soldat ; referees: Prof. Dr. Peter Fischer [und ein weiterer Gutachter]
Verlagsort:Heidelberg
Jahr:2018
Umfang:1 Online-Ressource (159 Seiten)
Illustrationen:Illustrationen, Diagramme
Schrift/Sprache:Mit einer Zusammenfassung in englischer und deutscher Sprache
Hochschulschrift:Dissertation, Ruperto-Carola University of Heidelberg, 2018
DOI:doi:10.11588/heidok.00024041
URL:kostenfrei: Volltext: http://dx.doi.org/10.11588/heidok.00024041
 kostenfrei: Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-240415
 Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-240415
 Volltext: http://d-nb.info/1177691531/34
 kostenfrei: Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/24041
 Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00024041
 DOI: https://doi.org/10.11588/heidok.00024041
URN:urn:nbn:de:bsz:16-heidok-240415
Datenträger:Online-Ressource
Dokumenttyp:Hochschulschrift
Sprache:eng
Bibliogr. Hinweis:Erscheint auch als : Druck-Ausgabe: Soldat, Jan, 1986 - : Characterization, operation and wafer-level testing of an ultra-fast 4k pixel readout ASIC for the DSSC x-ray detector at the European XFEL. - Heidelberg, 2018. - 149 Seiten
K10plus-PPN:1659189837
 
 
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