Artifact correction and real-time scatter estimation for X-ray computed tomography in industrial metrology

• Verfasst von: Maier, Joscha [VerfasserIn]
• Titel: Artifact correction and real-time scatter estimation for X-ray computed tomography in industrial metrology
• Mitwirkende: Bachert, Peter [AkademischeR BetreuerIn]
• Institutionen: Universität Heidelberg [Grad-verleihende Institution]
• Verf.angabe: put forward by M.Sc. Joscha Maier ; referees: Prof. Dr. Peter Bachert, Prof. Dr. Marc Kachelrieß
• Verlagsort: Heidelberg
• E-Jahr: 2019
• Jahr: [2019?]
• Umfang: XIII, 157 Seiten
• Illustrationen: Illustrationen, Diagramme
• Weitere Titel: Übersetzung des Haupttitels: Artefaktkorrektur und Echtzeit-Streustrahlschätzung für die Röntgen-Computertomographie in der industriellen Messtechnik
• Schrift/Sprache: Mit Zusammenfassungen in englischer und deutscher Sprache
• Hochschulschrift: Dissertation, Ruperto-Carola University of Heidelberg, 2019
• Dokumenttyp: Hochschulschrift
• Sprache: eng
• Bibliogr. Hinweis: Erscheint auch als : Online-Ausgabe: Maier, Joscha, 1988 - : Artifact correction and real-time scatter estimation for X-ray computed tomography in industrial metrology. - Heidelberg, 2019. - 1 Online-Ressource (171 Seiten)
• K10plus-PPN: 167738929X