| |  Online-Ressource |
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| Verfasst von: | Schmid, Georg [VerfasserIn]  |
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| | Schnorr, Kirsten [VerfasserIn] |
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| | Augustin, Sven [VerfasserIn] |
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| | Meister, Severin [VerfasserIn] |
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| | Lindenblatt, Hannes [VerfasserIn] |
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| | Trost, Florian [VerfasserIn] |
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| | Liu, Yifan [VerfasserIn] |
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| | Miteva, Tsveta [VerfasserIn] |
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| | Gisselbrecht, Mathieu [VerfasserIn] |
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| | Düsterer, Stefan [VerfasserIn] |
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| | Redlin, Harald [VerfasserIn] |
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| | Treusch, Rolf [VerfasserIn] |
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| | Gokhberg, Kirill [VerfasserIn] |
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| | Kuleff, Alexander I. [VerfasserIn] |
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| | Cederbaum, Lorenz S. [VerfasserIn] |
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| | Schröter, Claus D. [VerfasserIn] |
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| | Pfeifer, Thomas [VerfasserIn] |
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| | Moshammer, Robert [VerfasserIn] |
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| Titel: | Tracing charge transfer in argon dimers by XUV-pump IR-probe experiments at FLASH |
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| Verf.angabe: | Georg Schmid, Kirsten Schnorr, Sven Augustin, Severin Meister, Hannes Lindenblatt, Florian Trost, Yifan Liu, Tsveta Miteva, Mathieu Gisselbrecht, Stefan Düsterer, Harald Redlin, Rolf Treusch, Kirill Gokhberg, Alexander I. Kuleff, Lorenz S. Cederbaum, Claus Dieter Schröter, Thomas Pfeifer, and Robert Moshammer |
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| E-Jahr: | 2019 |
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| Jahr: | 30 August 2019 |
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| Umfang: | 9 S. |
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| Fussnoten: | Gesehen am 15.04.2020 |
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| Titel Quelle: | Enthalten in: The journal of chemical physics |
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| Ort Quelle: | Melville, NY : American Institute of Physics, 1933 |
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| Jahr Quelle: | 2019 |
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| Band/Heft Quelle: | 151(2019,8) Artikel-Nummer 084314, 9 Seiten |
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| ISSN Quelle: | 1089-7690 |
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| Abstract: | Charge transfer (CT) at avoided crossings of excited ionized states of argon dimers is observed using a two-color pump-probe experiment at the free-electron laser in Hamburg (FLASH). The process is initiated by the absorption of three 27-eV-photons from the pump pulse, which leads to the population of Ar2+*-Ar states. Due to nonadiabatic coupling between these one-site doubly ionized states and two-site doubly ionized states of the type Ar+*-Ar+, CT can take place leading to the population of the latter states. The onset of this process is probed by a delayed infrared (800 nm) laser pulse. The latter ionizes the dimers populating repulsive Ar2+ -Ar+ states, which then undergo a Coulomb explosion. From the delay-dependent yields of the obtained Ar2+ and Ar+ ions, the lifetime of the charge-transfer process is extracted. The obtained experimental value of (531 ± 136) fs agrees well with the theoretical value computed from Landau-Zener probabilities. |
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| DOI: | doi:10.1063/1.5116234 |
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| URL: | Bitte beachten Sie: Dies ist ein Bibliographieeintrag. Ein Volltextzugriff für Mitglieder der Universität besteht hier nur, falls für die entsprechende Zeitschrift/den entsprechenden Sammelband ein Abonnement besteht oder es sich um einen OpenAccess-Titel handelt.
Volltext: https://doi.org/10.1063/1.5116234 |
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| | Volltext: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5116234 |
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| | DOI: https://doi.org/10.1063/1.5116234 |
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| Datenträger: | Online-Ressource |
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| Sprache: | eng |
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| K10plus-PPN: | 1694605728 |
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| Verknüpfungen: | → Zeitschrift |
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Tracing charge transfer in argon dimers by XUV-pump IR-probe experiments at FLASH / Schmid, Georg [VerfasserIn]; 30 August 2019 (Online-Ressource)
