| |  Online-Ressource |
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| Verfasst von: | Aref, Thomas [VerfasserIn]  |
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| | Averin, A. [VerfasserIn] |
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| | van Dijken, S. [VerfasserIn] |
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| | Ferring-Siebert, Anna [VerfasserIn] |
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| | Koberidze, M. [VerfasserIn] |
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| | Maisi, V. F. [VerfasserIn] |
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| | Nguyend, H. Q. [VerfasserIn] |
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| | Nieminen, R. M. [VerfasserIn] |
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| | Pekola, J. P. [VerfasserIn] |
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| | Yao, L. D. [VerfasserIn] |
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| Titel: | Characterization of aluminum oxide tunnel barriers by combining transport measurements and transmission electron microscopy imaging |
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| Verf.angabe: | T. Aref, A. Averin, S. van Dijken, A. Ferring, M. Koberidze, V.F. Maisi, H.Q. Nguyend, R.M. Nieminen, J.P. Pekola, and L.D. Yao |
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| E-Jahr: | 2014 |
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| Jahr: | 19 August 2014 |
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| Umfang: | 4 S. |
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| Fussnoten: | Gesehen am 10.09.2020 |
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| Titel Quelle: | Enthalten in: Journal of applied physics |
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| Ort Quelle: | Melville, NY : American Inst. of Physics, 1931 |
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| Jahr Quelle: | 2014 |
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| Band/Heft Quelle: | 116(2014,7) Artikel-Nummer 073702, 4 Seiten |
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| ISSN Quelle: | 1089-7550 |
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| Abstract: | We present two approaches for studying the uniformity of a tunnel barrier. The first approach is based on measuring single-electron and two-electron tunneling in a hybrid single-electron transistor. Our measurements indicate that the effective area of a conduction channel is about one order of magnitude larger than predicted by theoretical calculations. With the second method, transmission electron microscopy, we demonstrate that variations in the barrier thickness are a plausible explanation for the larger effective area and an enhancement of higher order tunneling processes. |
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| DOI: | doi:10.1063/1.4893473 |
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Volltext ; Verlag: https://doi.org/10.1063/1.4893473 |
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| | Volltext: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.4893473 |
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| | DOI: https://doi.org/10.1063/1.4893473 |
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| Datenträger: | Online-Ressource |
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| Sprache: | eng |
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| K10plus-PPN: | 1729817386 |
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| Verknüpfungen: | → Zeitschrift |
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Characterization of aluminum oxide tunnel barriers by combining transport measurements and transmission electron microscopy imaging / Aref, Thomas [VerfasserIn]; 19 August 2014 (Online-Ressource)
