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Universitätsbibliothek Heidelberg
Status: Bibliographieeintrag

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 Online-Ressource
Verfasst von:Grimm, Stefan [VerfasserIn]   i
 Zaumseil, Jana [VerfasserIn]   i
Titel:Mapping charge-carrier density across the p-n junction in ambipolar carbon-nanotube networks by Raman microscopy
Verf.angabe:Stefan B. Grimm, Florian Jakubka, Stefan P. Schießl, Florentina Gannott, and Jana Zaumseil
E-Jahr:2014
Jahr:22 October 2014
Umfang:7 S.
Fussnoten:Gesehen am 20.10.2020
Titel Quelle:Enthalten in: Advanced materials
Ort Quelle:Weinheim : Wiley-VCH, 1989
Jahr Quelle:2014
Band/Heft Quelle:26(2014), 47, Seite 7986-7992
ISSN Quelle:1521-4095
Abstract:In situ confocal Raman microscopy is used to map the recombination zone (induced p-n junction) in an ambipolar carbon-nanotube-network transistor with high spatial resolution. The shift of the 2D mode (G’ mode) depending on hole and electron accumulation serves as a measure for the local charge-carrier density and provides complementary information about charge transport and recombination in ambipolar transistors.
DOI:doi:10.1002/adma.201403655
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Volltext ; Verlag: https://doi.org/10.1002/adma.201403655
 Volltext: https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/adma.201403655
 DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201403655
Datenträger:Online-Ressource
Sprache:eng
Sach-SW:ambipolar
 carbon nanotubes
 electrolyte-gating
 mapping
 Raman microscopy
K10plus-PPN:173601305X
Verknüpfungen:→ Zeitschrift

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