Status: Bibliographieeintrag
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Exemplare:
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| Online-Ressource |
Verfasst von: | Grimm, Stefan [VerfasserIn]  |
| Zaumseil, Jana [VerfasserIn]  |
Titel: | Mapping charge-carrier density across the p-n junction in ambipolar carbon-nanotube networks by Raman microscopy |
Verf.angabe: | Stefan B. Grimm, Florian Jakubka, Stefan P. Schießl, Florentina Gannott, and Jana Zaumseil |
E-Jahr: | 2014 |
Jahr: | 22 October 2014 |
Umfang: | 7 S. |
Fussnoten: | Gesehen am 20.10.2020 |
Titel Quelle: | Enthalten in: Advanced materials |
Ort Quelle: | Weinheim : Wiley-VCH, 1989 |
Jahr Quelle: | 2014 |
Band/Heft Quelle: | 26(2014), 47, Seite 7986-7992 |
ISSN Quelle: | 1521-4095 |
Abstract: | In situ confocal Raman microscopy is used to map the recombination zone (induced p-n junction) in an ambipolar carbon-nanotube-network transistor with high spatial resolution. The shift of the 2D mode (G’ mode) depending on hole and electron accumulation serves as a measure for the local charge-carrier density and provides complementary information about charge transport and recombination in ambipolar transistors. |
DOI: | doi:10.1002/adma.201403655 |
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Volltext ; Verlag: https://doi.org/10.1002/adma.201403655 |
| Volltext: https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/adma.201403655 |
| DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201403655 |
Datenträger: | Online-Ressource |
Sprache: | eng |
Sach-SW: | ambipolar |
| carbon nanotubes |
| electrolyte-gating |
| mapping |
| Raman microscopy |
K10plus-PPN: | 173601305X |
Verknüpfungen: | → Zeitschrift |
Mapping charge-carrier density across the p-n junction in ambipolar carbon-nanotube networks by Raman microscopy / Grimm, Stefan [VerfasserIn]; 22 October 2014 (Online-Ressource)
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