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Universitätsbibliothek Heidelberg
Status: Bibliographieeintrag

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 Online-Ressource
Verfasst von:Peric, Ivan [VerfasserIn]   i
 Andreazza, Attilio [VerfasserIn]   i
 Augustin, Heiko [VerfasserIn]   i
 Barbero, Marlon [VerfasserIn]   i
 Benoit, Mathieu [VerfasserIn]   i
 Casanova, Raimon [VerfasserIn]   i
 Ehrler, Felix [VerfasserIn]   i
 Iacobucci, Giuseppe [VerfasserIn]   i
 Leys, Richard [VerfasserIn]   i
 Meneses González, Annie [VerfasserIn]   i
 Pangaud, Patrick [VerfasserIn]   i
 Prathapan, Mridula [VerfasserIn]   i
 Schimassek, Rudolf [VerfasserIn]   i
 Schöning, André [VerfasserIn]   i
 Figueras, Eva Vilella [VerfasserIn]   i
 Weber, Alena [VerfasserIn]   i
 Weber, Michele [VerfasserIn]   i
 Wong, Winnie [VerfasserIn]   i
 Zhang, Hui [VerfasserIn]   i
Titel:High-voltage CMOS active pixel sensor
Verf.angabe:Ivan Perić, Attilio Andreazza, Heiko Augustin, Marlon Barbero, Mathieu Benoit, Raimon Casanova, Felix Ehrler, Giuseppe Iacobucci, Richard Leys, Annie Meneses Gonzalez, Patrick Pangaud, Mridula Prathapan, Rudolf Schimassek, André Schöning, Eva Vilella Figueras, Alena Weber, Michele Weber, Winnie Wong, and Hui Zhang
E-Jahr:2021
Jahr:March 9, 2021
Umfang:15 S.
Fussnoten:Gesehen am 13.10.2021
Titel Quelle:Enthalten in: Institute of Electrical and Electronics EngineersIEEE journal of solid state circuits
Ort Quelle:New York, NY : IEEE, 1966
Jahr Quelle:2021
Band/Heft Quelle:56(2021), 8 vom: Aug., Seite 2488-2502
Abstract:The high-voltage CMOS (HVCMOS) sensors are a novel type of CMOS active pixel sensors for ionizing particles that can be implemented in CMOS processes with deep n-well option. The pixel contains one sensor electrode formed with a deep n-well implanted in a p-type substrate. CMOS pixel electronics, embedded in shallow wells, are placed inside the deep n-well. By biasing the substrate with a high negative voltage and by the use of a lowly doped substrate, a depleted region depth of at least 30 $\mu \textm$ can be achieved. The electrons generated by a particle are collected by drift, which induces fast detectable signals. This publication presents a 4.2-cm2 large HVCMOS pixel sensor implemented in a commercial 180-nm process on a lowly doped substrate and its characterization.
DOI:doi:10.1109/JSSC.2021.3061760
URL:Bitte beachten Sie: Dies ist ein Bibliographieeintrag. Ein Volltextzugriff für Mitglieder der Universität besteht hier nur, falls für die entsprechende Zeitschrift/den entsprechenden Sammelband ein Abonnement besteht oder es sich um einen OpenAccess-Titel handelt.

Volltext: https://doi.org/10.1109/JSSC.2021.3061760
 DOI: https://doi.org/10.1109/JSSC.2021.3061760
Datenträger:Online-Ressource
Sprache:eng
Sach-SW:Active pixel sensors
 Atmospheric measurements
 Detectors
 Intelligent sensors
 ionizing radiation sensors
 particle beam measurements
 Particle measurements
 particle tracking
 Particle tracking
 position-sensitive particle detector
 radiation imaging
 radiation monitoring
 Sensors
 silicon radiation detectors
 smart pixels
 Substrates
K10plus-PPN:1773551957
Verknüpfungen:→ Zeitschrift

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