Navigation überspringen
Universitätsbibliothek Heidelberg
Status: Bibliographieeintrag

Verfügbarkeit
Standort: ---
Exemplare: ---
heiBIB
 Online-Ressource
Verfasst von:Cecconi, Leonardo [VerfasserIn]   i
 Piro, F. [VerfasserIn]   i
 Melo, J. L. A. de [VerfasserIn]   i
 Deng, W. [VerfasserIn]   i
 Hong, G. H. [VerfasserIn]   i
 Snoeys, W. [VerfasserIn]   i
 Mager, M. [VerfasserIn]   i
 Suljic, M. [VerfasserIn]   i
 Kugathasan, T. [VerfasserIn]   i
 Buckland, M. [VerfasserIn]   i
 Rinella, G. Aglieri [VerfasserIn]   i
 Leitao, P. V. [VerfasserIn]   i
 Reidt, F. [VerfasserIn]   i
 Baudot, J. [VerfasserIn]   i
 Bugiel, S. [VerfasserIn]   i
 Colledani, C. [VerfasserIn]   i
 Contin, G. [VerfasserIn]   i
 Hu, C. [VerfasserIn]   i
 Kluge, A. [VerfasserIn]   i
 Kluit, R. [VerfasserIn]   i
 Vitkovskiy, A. [VerfasserIn]   i
 Russo, R. [VerfasserIn]   i
 Becht, P. [VerfasserIn]   i
 Grelli, A. [VerfasserIn]   i
 Hasenbichler, J. [VerfasserIn]   i
 Munker, M. [VerfasserIn]   i
 Soltveit, Hans Kristian [VerfasserIn]   i
 Menzel, Marius [VerfasserIn]   i
 Sonneveld, J. [VerfasserIn]   i
 Tiltmann, N. [VerfasserIn]   i
Titel:Design and readout architecture of a monolithic binary active pixel sensor in TPSCo 65 nm CMOS imaging technology
Verf.angabe:L. Cecconi, F. Piro, J.L.A. de Melo, W. Deng, G.H. Hong, W. Snoeys, M. Mager, M. Suljic, T. Kugathasan, M. Buckland, G. Aglieri Rinella, P.V. Leitao, F. Reidt, J. Baudot, S. Bugiel, C. Colledani, G. Contin, C. Hu, A. Kluge, R. Kluit, A. Vitkovskiy, R. Russo, P. Becht, A. Grelli, J. Hasenbichler, M. Munker, H.K. Soltveit, M.W. Menzel, J. Sonneveld and N. Tiltmann
E-Jahr:2023
Jahr:February 2023
Umfang:9 S.
Fussnoten:Online veröffentlicht: 9. Februar 2023 ; Gesehen am 01.08.2023
Titel Quelle:Enthalten in: Journal of Instrumentation
Ort Quelle:London : Inst. of Physics, 2006
Jahr Quelle:2023
Band/Heft Quelle:18(2023), 2, Artikel-ID C02025, Seite 1-9
ISSN Quelle:1748-0221
Abstract:The Digital Pixel Test Structure (DPTS) is a monolithic active pixel sensor prototype chip designed to explore the TPSCo 65 nm ISC process in the framework of the CERN-EP R&D on monolithic sensors and the ALICE ITS3 upgrade. It features a 32 × 32 binary pixel matrix at 15 μm pitch with event-driven readout, with GHz range time-encoded digital signals including Time-Over-Threshold. The chip proved fully functional and efficient in testbeam allowing early verification of the complete sensor to readout chain. This paper focuses on the design, in particular the digital readout and its perspectives with some supporting results.
DOI:doi:10.1088/1748-0221/18/02/C02025
URL:Bitte beachten Sie: Dies ist ein Bibliographieeintrag. Ein Volltextzugriff für Mitglieder der Universität besteht hier nur, falls für die entsprechende Zeitschrift/den entsprechenden Sammelband ein Abonnement besteht oder es sich um einen OpenAccess-Titel handelt.

Volltext: https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/02/C02025
 Volltext: https://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/18/02/C02025
 DOI: https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/02/C02025
Datenträger:Online-Ressource
Sprache:eng
K10plus-PPN:1854080725
Verknüpfungen:→ Zeitschrift

Permanenter Link auf diesen Titel (bookmarkfähig):  https://katalog.ub.uni-heidelberg.de/titel/69103512   QR-Code
zum Seitenanfang