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Universitätsbibliothek Heidelberg
Status: Bibliographieeintrag

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Verfasst von:Qin, Sichen [VerfasserIn]   i
 Zhang, Guiquan [VerfasserIn]   i
 Zhang, Jia-Wei [VerfasserIn]   i
 Zhao, Yu [VerfasserIn]   i
 Song, Chen [VerfasserIn]   i
 Emonds, Yannick [VerfasserIn]   i
 Fröning, Holger [VerfasserIn]   i
Titel:Random telegraph noise characteristic of nonvolatile resistive random access memories based on optical interference principle
Verf.angabe:Sichen Qin, Guiquan Zhang, Jia-Wei Zhang, Yu Zhao, Chen Song, Yannick Emonds, Holger Fröning
E-Jahr:2024
Jahr:7 March 2024
Fussnoten:Gesehen am 02.07.2024
Titel Quelle:Enthalten in: Japanese journal of applied physics
Ort Quelle:Bristol : IOP Publ., 1962
Jahr Quelle:2024
Band/Heft Quelle:63(2024), 3, Artikel-ID 031003
ISSN Quelle:1347-4065
Abstract:The influence of random telegraph noise (RTN) could reduce the reading margin, which would cause computational errors in data recognition. This paper proposes a current sensor based on the principle of optical fiber interference, which can avoid the interference generated during the RTN testing process and improve the accuracy due to its passive characteristics. In this study, a hafnium oxide based memristor was fabricated, the switching voltages of Cu and TiN as the top electrodes are 0.2 V and 0.15 V, respectively. In addition, the RTN spectral density of the two device structures in LRS increases from 10−5 to 10−1 A2 Hz−1 and from 10−5 to 101 A2 Hz−1 with increasing applied voltage. While the RTN in high resistance state is independent of the applied voltage. Furthermore, based on the analysis of the experimental data, the generation mechanism of the RTN is attributed to local defects and the capture or emission of carriers by traps.
DOI:doi:10.35848/1347-4065/ad26d1
URL:Bitte beachten Sie: Dies ist ein Bibliographieeintrag. Ein Volltextzugriff für Mitglieder der Universität besteht hier nur, falls für die entsprechende Zeitschrift/den entsprechenden Sammelband ein Abonnement besteht oder es sich um einen OpenAccess-Titel handelt.

Volltext: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad26d1
 Volltext: https://iopscience.iop.org/article/10.35848/1347-4065/ad26d1
 DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad26d1
Datenträger:Online-Ressource
Sprache:eng
K10plus-PPN:1893114724
Verknüpfungen:→ Zeitschrift

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