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Universitätsbibliothek Heidelberg
Status: Bibliographieeintrag

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 Online-Ressource
Verfasst von:Adam, Fabienne [VerfasserIn]   i
 Enss, Christian [VerfasserIn]   i
 Kempf, Sebastian [VerfasserIn]   i
Titel:Anodization-free fabrication process for high-quality cross-type Josephson tunnel junctions based on a Nb/Al-AlOx/Nb trilayer
Verf.angabe:F Adam, C Enss and S Kempf
E-Jahr:2024
Jahr:8 July 2024
Umfang:12 S.
Illustrationen:Illustrationen
Fussnoten:Gesehen am 19.12.2024 ; Im Titel ist der Buchstabe "x" tiefgestellt
Titel Quelle:Enthalten in: Superconductor science and technology
Ort Quelle:Bristol : IOP Publ., 1989
Jahr Quelle:2024
Band/Heft Quelle:37(2024), 8, Artikel-ID 085013, Seite 1-12
ISSN Quelle:1361-6668
Abstract:Josephson tunnel junctions form the basis for various superconductor electronic devices. For this reason, enormous efforts are routinely taken to establish and later on maintain a scalable and reproducible wafer-scale manufacturing process for high-quality Josephson junctions. Here, we present an anodization-free fabrication process for Nb/Al-AlO x /Nb cross-type Josephson junctions that requires only a small number of process steps and that is in general intrinsically compatible with wafer-scale fabrication. We show that the fabricated junctions are of very high quality and, compared to other junction types, exhibit not only a significantly reduced capacitance but also an almost rectangular critical current density profile. Our process hence enables the usage of low capacitance Josephson junctions for superconductor electronic devices such as ultra-low noise dc-superconducting quantum interference devices (SQUIDs), microwave SQUID multiplexers based on non-hysteretic rf-SQUIDs and RFSQ circuits.
DOI:doi:10.1088/1361-6668/ad59cf
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kostenfrei: Volltext: https://doi.org/10.1088/1361-6668/ad59cf
 kostenfrei: Volltext: https://dx.doi.org/10.1088/1361-6668/ad59cf
 DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6668/ad59cf
Datenträger:Online-Ressource
Sprache:eng
K10plus-PPN:1913044564
Verknüpfungen:→ Zeitschrift

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