Verfasst von: | Flegler, Stanley L. |
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Heckman, John W. | |
Klomparens, Karen L. | |
Titel: | Elektronenmikroskopie |
Titelzusatz: | Grundlagen, Methoden, Anwendungen |
Werktitel: | Scanning and transmission electron microscopy <dt.> |
Verf.angabe: | Stanley L. Flegler; John W. Heckman; Karen L. Klomparens |
Verlagsort: | Heidelberg ; Berlin [u.a.] |
Verlag: | Spektrum, Akad. Verl. |
Jahr: | 1995 |
Umfang: | VIII, 279 S. |
Illustrationen: | Ill., graph. Darst. |
Fussnoten: | Literaturangaben |
ISBN: | 3-86025-341-7 |
978-3-86025-341-0 | |
URL: | Inhaltsverzeichnis ; Verlag: http://www.gbv.de/dms/hebis-darmstadt/toc/35856343.pdf |
Inhaltsverzeichnis: http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/186849850.PDF | |
Schlagwörter: | (s)Elektronenmikroskopie |
(s)Elektronenmikroskopie | |
(s)Elektronenmikroskopie / (s)Optik | |
Sprache: | ger |
Altbestandsnotation: | SysK: Phys N 80 |
RVK-Notation: | WC 3100 |
ZM 3700 | |
ZM 8150 | |
UH 6300 | |
UH 5000 | |
Sach-SW: | Elektronenmikroskopie |
K10plus-PPN: | 278458319 |
Signatur | QR | Standort | Status | |
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UBN/UH 6300 F595 | Zweigstelle Neuenheim / Freihandbereich Monographien | bestellbar | ||
Mediennummer: 09524114 |