| |
| Ansetzungsform: | Rasterkraftmikroskopie |
|---|---|
| GND: | 4274473-8 |
| PPN (SWB): | 104461349 |
| Quelle: | B 2006 (online) |
| SWD-Systematiknummer: | 21.3 |
| Notation DDC: | 502.82;570.282 |
| Alternativformen: | Atomic force microscopy Microscopie à force atomique |
| Verweisungsformen allg.: | Kraftmikroskopie AFM Atomic force microscopy RKM SFM Scanning force microscopy |
| Verwandter Begriff: | Rastersondenmikroskopie |
DNB: Deutsche Nationalbibliothek
