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| Ansetzungsform: | Sekundärmassenspektrometrie |
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| SWD: | 4398513-0 |
| GND: | 4398513-0 |
| PPN (SWB): | 191676179 |
| Quelle: | Vorlage |
| SWD-Systematiknummer: | 21.5;22.3 |
| Notation DDC: | 543.65;530.417 |
| Alternativformen: | Secondary ion mass spectrometry Spectrométrie de masse des ions secondaires |
| Verweisungsformen allg.: | Sekundärteilchen-Massenspektrometrie |
| Übergeordnete Bezeichnung: | Massenspektrometrie Oberflächenanalyse |
| Verwandter Begriff: | Massenspektrometrie Oberflächenanalyse |
DNB: Deutsche Nationalbibliothek
