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| Ansetzungsform: | Oberflächenanalyse |
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| SWD: | 4172243-7 |
| GND: | 4172243-7 |
| PPN (SWB): | 105388610 |
| Quelle: | THes. Technik ; Römpp (9.Aufl.) als Oberflächenanalyse-Methode |
| Definition: | aZusammenfassender Begriff für Verfahren wie AES, EXAFS, LEED, SIMS usw. |
| SWD-Systematiknummer: | 22.3;21.5;31.1d |
| Notation DDC: | 530.417 |
| Alternativformen: | Surfaces (Technology) / Analysis Surfaces (technologie) / Analyse |
| Verwandter Begriff: | Physikalische Analyse |
DNB: Deutsche Nationalbibliothek
