International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors

• Titel: International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
• Titelzusatz: Nov. 4 - 6, 1985, Grenoble (France)
• Körperschaft: International Workshop on Evaluation of Single Crystal Diffraction Data from 2 D Position Sensitive Detectors <1985, Grenoble>
• Verlagsort: Les Ulis
• Verlag: Éd. de Physique
• Jahr: 1986
• Umfang: X, 201 S.
• Illustrationen: Ill., graph. Darst.
• Gesamttitel/Reihe: Journal de physique ; 47, Suppl. 5
• Fussnoten: Literaturangaben
• ISBN: 2-86883-030-7
• ISBN: 978-2-86883-030-2
• Sprache: eng
• K10plus-PPN: 025505475