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Universitätsbibliothek Heidelberg
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Signatur: 88 H 318   QR-Code
Standort: Zweigstelle Neuenheim / Magazin INF 329
Exemplare: siehe unten
Titel:Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern
Mitwirkende:Bartsch, Heinz   i
Verf.angabe:Heinz Bartsch ...
Verlagsort:Berlin
Verlag:Akademie-Verl.
Jahr:1987
Umfang:X, 84 S.
Illustrationen:Ill., graph. Darst.
Gesamttitel/Reihe:Beiträge zur Forschungstechnologie ; 15
ISBN:3-05-500233-4
 978-3-05-500233-5
Schlagwörter:(s)Halbleitergrenzfläche   i / (s)Elektronenmikroskopie   i
 (s)Halbleiter   i / (s)Heterostruktur   i / (s)Elektronenmikroskopie   i
Sprache:ger
RVK-Notation:UH 6300   i
SWB-PPN:013307363
Verknüpfungen:→ Übergeordnete Aufnahme
Exemplare:

SignaturQRStandortStatus
88 H 318QR-CodeZweigstelle Neuenheim / Magazin INF 329bestellbar
Mediennummer: 03496218

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