Online-Ressource | |
Verfasst von: | Melzer, Christian |
Siol, Christopher | |
Seggern, Heinz von | |
Titel: | Transit phenomena in organic field-effect transistors through Kelvin-probe force microscopy |
Verf.angabe: | Christian Melzer, Christopher Siol, and Heinz von Seggern |
Jahr: | 2013 |
Umfang: | 5 S. |
Fussnoten: | Gesehen am 17.03.2014 |
Titel Quelle: | In: Advanced materials |
Ort Quelle: | Weinheim : Wiley-VCH, 1989 |
Jahr Quelle: | 2013 |
Band/Heft Quelle: | 25(2013), 31, Seite 4315-4319 |
ISSN Quelle: | 1521-4095 |
DOI: | doi:10.1002/adma.201300004 |
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DOI: https://doi.org/10.1002/adma.201300004 | |
Datenträger: | Online-Ressource |
Sprache: | eng |
K10plus-PPN: | 1472364791 |
Verknüpfungen: | → Zeitschrift |