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Universitätsbibliothek Heidelberg
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 Online-Ressource
Verfasst von:Huth, Lennart [VerfasserIn]   i
Titel:A high rate testbeam data acquisition system and characterization of high voltage monolithic active pixel sensors
Mitwirkende:Schöning, André [AkademischeR BetreuerIn]   i
Verf.angabe:put forward by Lennart Huth, born in Buchen (Odenwald) ; referees: Prof.Dr. André Schöning [und ein weiterer Gutachter]
Verlagsort:Heidelberg
Jahr:2019
Umfang:1 Online-Ressource (xvi, 201 Seiten)
Schrift/Sprache:Mit einer Zusammenfassung in englischer und deutscher Sprache
Hochschulschrift:Dissertation, Ruperto-Carola-University of Heidelberg, 2018
DOI:doi:10.11588/heidok.00025785
URL:kostenfrei: Volltext: http://dx.doi.org/10.11588/heidok.00025785
 kostenfrei: Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-257853
 Volltext: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bsz:16-heidok-257853
 Volltext: http://d-nb.info/117704532X/34
 kostenfrei: Volltext: http://www.ub.uni-heidelberg.de/archiv/25785
 Unbekannt: https://doi.org/10.11588/heidok.00025785
 DOI: https://doi.org/10.11588/heidok.00025785
URN:urn:nbn:de:bsz:16-heidok-257853
Datenträger:Online-Ressource
Dokumenttyp:Hochschulschrift
Sprache:eng
Bibliogr. Hinweis:Erscheint auch als : Druck-Ausgabe: Huth, Lennart, 1989 - : A high rate testbeam data acquisition system and characterization of high voltage monolithic active pixel sensors. - Heidelberg, 2018. - xvi, 201 Seiten
K10plus-PPN:1655132474
 
 
Lokale URL UB: Zum Volltext

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