Titel: | International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors |
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Titelzusatz: | Nov. 4 - 6, 1985, Grenoble (France) |
Körperschaft: | International Workshop on Evaluation of Single Crystal Diffraction Data from 2 D Position Sensitive Detectors <1985, Grenoble> |
Verlagsort: | Les Ulis |
Verlag: | Éd. de Physique |
Jahr: | 1986 |
Umfang: | X, 201 S. |
Illustrationen: | Ill., graph. Darst. |
Gesamttitel/Reihe: | Journal de physique ; 47, Suppl. 5 |
Fussnoten: | Literaturangaben |
ISBN: | 2-86883-030-7 |
978-2-86883-030-2 | |
Sprache: | eng |
K10plus-PPN: | 025505475 |
Verknüpfungen: | → Übergeordnete Aufnahme |