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TY - `CONF` TI - International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors : Nov. 4 - 6, 1985, Grenoble (France) PB - Éd. de Physique C1 - Les Ulis C2 - 1986 LA - eng SP - X, 201 S. T3 - Journal de physique VL - 47, Suppl. 5 N1 - Literaturangaben SN - 2-86883-030-7 SN - 978-2-86883-030-2 CN - ZSN 371 C::47, Suppl. 5 AN - UBHD-1751939 ER -
