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| Verfasst von: | Düsterhöft, Heinz  |
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| Riedel, Miklos | |
| Düsterhöft, Bettina-Kirsten | |
| Titel: | Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- |
| Titelzusatz: | mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang |
| Verf.angabe: | von Heinz Düsterhöft, Miklos Riedel und Bettina-Kirsten Düsterhöft |
| Verlagsort: | Stuttgart ; Leipzig |
| Verlag: | Teubner |
| Jahr: | 1999 |
| Umfang: | 184 S |
| Illustrationen: | Ill., graph. Darst |
| Format: | 21 cm |
| Gesamttitel/Reihe: | Teubner-Studienbücher : Physik |
| ISBN: | 3-519-03239-2 |
| 978-3-519-03239-7 | |
| URL: | Inhaltsverzeichnis: http://www.gbv.de/dms/hebis-darmstadt/toc/60962593.pdf |
| Schlagwörter: | (s)Sekundärionen-Massenspektrometrie |
| Dokumenttyp: | Lehrbuch |
| Sprache: | ger |
| RVK-Notation: | UP 9300 |
| UM 3100 | |
| K10plus-PPN: | 252960173 |
| Signatur | QR | Standort | Status | |
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| UBN/UP 9300 D853 | | Zweigstelle Neuenheim / Freihandbereich Monographien | | bestellbar |
| Mediennummer: 09903144 | ||||
